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国产半导体参数测试仪iv|cv一键测特点

30μV-1200V，1pA-100A 宽量程测试能力

测量精度高，全量程下可达0.03%

内置标准器件测试程序，直接调用测试简便 

自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线

供灵活的夹具定制方案，兼容性强

免费提供上位机软件及SCPI指令集

应用场景及测试参数

1纳米材料：电阻率、载流子迁移率、载流子浓度、霍尔电压

2柔性材料：拉伸/扭转/弯折、V-t、I-t、R-t、电阻率、灵敏度

3IC芯片：O/S、IIH/IIL、VOH/VOL、I/O Pin IV曲线

4分立器件：BVDSS/IGSS/IDSS/Vgs(th)/Rdson、Ciss/Coss/Crss、输出/转移/CV曲线等

5光电探测器：暗电流ID、结电容Ct、反向击穿电压VBR、响应度R

6钙钛矿电池：VOC、ISC、Pmax、Vmax、Imax、FF、η、Rs、Rsh

7LD/LED/OLED：Iop、Popt、VF、Ith、VR、IR、LIV/IVL曲线

8传感器/忆阻器：V-t、I-t、R-t、直流/脉冲/交流IV测试

特色优势

1模块化配置：可灵活配置多种测量单元，预留升级空间，方便后期升级

2图形化界面：内置常用器件模板，可直接调用，并且支持输出三种模式测试报告

3自动化测试：内嵌低漏电矩阵开关，可自动切换测试电路，实现一键测试功能

4夹具可定制：支持二极管、三极管、Si及SiC MOS管、IGBT等器件

5多设备联动：可与探针台、温控模块等搭配使用，温控范围：室温~250℃

联系我们：

武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士

Web:http://www.whpssins.com

Add:武汉市东湖技术开发区光谷三路777号6号保税物流园6号楼4楼

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QQ：1993323884

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